IDDQ Testing of VLSI Circuits

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Beschreibung

IDDQ Testing of VLSI Circuits

IDDQ Testing: A Review. - Iddq Testing as a Component of a Test Suite: The Need for Several Fault Coverage Metrics. - Iddq Testing in CMOS Digital ASICs. - Reliability Benefits of IDDQ. - Quiescent Current Analysis and Experimentation of Defective CMOS Circuits. - QUIETEST: A Methodology for Selecting IDDQ Test Vectors. - Generation and Evaluation of Current and Logic Tests for Switch-Level Sequential Circuits. - Diagnosis of Leakage Faults with IDDQ. - Algorithms for IDDQ Measurement Based Diagnosis of Bridging Faults. - Proportional BIC Sensor for Current Testing. - Design of ICs Applying Built-in Current Testing. Language: English
  • Marke: Unbranded
  • Kategorie: Computer und Internet
  • Künstler: Ravi K. Gulati
  • Format: Paperback
  • Verlag / Label: Springer
  • Sprache: English
  • Erscheinungsdatum: 2012/10/12
  • Seitenzahl: 124
  • Fruugo-ID: 340631037-747129304
  • ISBN: 9781461363774

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