Multifunktionales Testkit mit einer Edelstahlnadel und einer Leiterplatte, die für den Zugriff auf kleine Lötpads ausgelegt ist und sich ideal für Daten- und Programmieraufgaben eignet. Einstellbare Nadelposition Die Nadelhöhe und -drehung können einfach eingestellt werden, um einen präzisen Zugang zu den Testpunkten auf Leiterplatten zu gewährleisten und so die Genauigkeit und Kontrolle während des Tests zu verbessern. Schützt empfindliche Ballen Schützt empfindliche Lötpads vor Beschädigungen, die während der Reparatur durch umherfliegende Lötleitfäden verursacht werden, und trägt dazu bei, dass Ihre Arbeit intakt bleibt. Feines Spitzendesign Die Edelstahlnadel mit einem Durchmesser von 8 mm verfügt über eine feine Spitze, die den Kontakt mit sehr kleinen Lötpads ermöglicht und komplizierte Schaltkreisarbeiten unterstützt. Material und Größe Konstruktion aus rostfreiem Stahl mit einer Nadel mit einem Durchmesser von 8 mm für zuverlässige Haltbarkeit und präzises Antasten. Leistung und Kompatibilität Entwickelt, um Daten- und Programmieraufgaben auf Leiterplatten zu erleichtern, wobei der Schwerpunkt auf kleinen Testpunkten und empfindlichen Pads liegt. Anwendungsszenarien Daten zu Geräten mit winzigen Lötpads, wie z. B. Mobiltelefonen oder Wearables, bei denen eine sorgfältige Untersuchung erforderlich ist. Programmierung und Debugging von Mikrocontrollern, die einen präzisen Zugang zu kleinen Testpunkten auf einer Leiterplatte erfordern. Leiterplatten oder Nacharbeiten, bei denen der Schutz der Pads vor Lötspritzern und Beschädigungen beim Entlöten oder Wiederanbringen wichtig ist.